42. Characterization of minerals, metals, and materials 2016 :
پدیدآورنده : edited by Shadia Jamil Ikhmayies [and more]
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Materials-- Analysis, Congresses.,Materials-- Testing, Congresses.
رده :
TA410
43. Cold war history
پدیدآورنده : edited by Frédéric Bozo ... [ et al.].
کتابخانه: كتابخانه مجلس شوراي اسلامى (طهران)
موضوع :
44. Gale encyclopedia of world history :
پدیدآورنده : editori
کتابخانه: كتابخانه مجلس شوراي اسلامى (طهران)
موضوع :
45. High resolution X-ray diffractometry and topography
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals
رده :
QD945
.
B683
1998
46. How do rogue nations threaten human rights? -- North Korea represses freedom / Kay Seok -- Iran violates women's rights / Sam Brownback -- Sudanese government engages in genocide / Human Rights Watch -- United States violates human rights worldwide / Vernon Coleman -- Rogue nations undermine the United Nations' mission to promote human rights / Joseph Loconte -- U.S. invasions have not spread democracy in the Middle East / Phyllis Bennis -- How should the global community respond to rogue nations? -- Preemptive force is sometimes necessary to contain rogue nations / National Review -- Preemptive force threatens efforts to contain rogue states / Ivan Eland -- Missile defense system is necessary to protect against rogue nations / Dennis Ross -- Missile defense system is unnecessary / Gwynne Dyer -- Promoting globalization will reduce the threat posed by rogue states / Banning N. Garrett, Dennis M. Sherman -- Globalization
پدیدآورنده : Louise Gerdes, book editor.
کتابخانه: كتابخانه مجلس شوراي اسلامى (طهران)
موضوع :
47. Includes bibliographical references (p. 49-51). 0,B
پدیدآورنده : Zeren Tanındı. ,/ Katie Normington.
کتابخانه: كتابخانه مجلس شوراي اسلامى (طهران)
موضوع :
48. Introducing TPCK / Matthew J. Koehler and Punya Mishra -- Bridging digital and cultural divides: TPCK for equity of access to technology / Mario Antonio Kelly -- TPCK in K-6 literacy education: it's not that elemen
پدیدآورنده : edited by AACTE Committee on Innovation and Technology.
کتابخانه: كتابخانه مجلس شوراي اسلامى (طهران)
موضوع :
49. Managing local government :
پدیدآورنده : Richard D. Bingham ... [et al.].
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Local government-- United States.
رده :
JS341
.
M365
1991
50. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, X-ray, and ion beams
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith )David Keith(
موضوع : Microscopy ، Materials
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
51. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith)David Keith(
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Materials - Microscopy
رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b
52. Siliciclastic sequence stratigraphy :
پدیدآورنده : edited by Paul Weimer and Henry Posamentier.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Sequence stratigraphy, Congresses.,Stratigraphie.,Corrélation stratigraphique.,Estratigrafia.,Sédimentation (géologie),Sequence stratigraphy.
رده :
QE640
.
S55
1994
53. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith)David Keith(
موضوع : ، Semiconductors- Design and construction- Quality control,، Integrated circuits- Measurement,، Semiconductor wafers- Inspection,، X-rays- Diffraction,، Fluroscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
54. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع : Semiconductors- Design and construction- Quality control,Integrated circuits- Measurement,Semiconductor wafers- Inspection,X-rays- Diffraction,Fluroscopy
رده :
TK7874
.
58
.
B69
2006
55. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors , Design and construction , Quality control,Integrated circuits , Measurement,Semiconductor wafers , Inspection,X-rays , Diffraction,Fluroscopy
رده :
E-BOOK
56. ray diffractometry and topography /-High resolution X
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : rays ; Diffraction. ; Crystals. ; -ray crystallography. ; X-X
